Epsilon ONE 光學非接觸式伸長計
廠牌 : EPSILON (USA)
型號 : EPSILON ONE 光學非接觸式伸長計
簡介 :
・光學非接觸式伸長計執行高精度、高分辨率、非接觸式軸向應變和位移測量
・金屬和復合材料、高伸長率材料、薄或精密的試樣、循環疲勞、應變控制測試、撓度計應用以及測量裂紋張開位移
・高分辨率 ISO 0,5 / ASTM B-1 精度
詳細資訊

(1) Epsilon ONE 可用於在環境室Chamber中進行測試的多種材料:塑料、橡膠、複合材料、電線等

      測試溫度可以從 -80 °C 到 +300 °C 或更高

(2) 與接觸式伸長計相比,使用 Epsilon ONE 測試鋼筋具有顯著優勢:
     a. 光學系統將實驗室工作人員和伸長計與危險的高能樣品故障隔離開來
     b. 更快的循環時間——無需在試樣上安裝引伸計
     c. 使用 ONE-500CE 的標距長度可達 350 mm(如需更長的標距,請聯繫 Epsilon)
     d. Epsilon ONE 將使用兩種方法之一跟踪鋼筋上的標記,這兩種方法都包含在系統中:
         使用油漆筆畫線條
         線夾-當鋼筋有表面氧化皮或鏽蝕時使用

(3)塑料、彈性體

   a. Epsilon ONE 的 200CE 光學組件可以測量超過 1000% 的應變(200 毫米視場和 10 毫米標距)。

   b. 光學和數據處理算法可確保即使在由於試體延伸而降低對比度時也能跟踪試體的標記。

   c. 這個相同的光學組件可以測量標距 <10 mm 的增強塑料微拉伸試樣的模量。

   d. Epsilon ONE 經過工廠校準,不需要校準網格或標距條,從而節省了大量時間。

(3) 複合材料、金屬、陶瓷
 
   a. Epsilon ONE 旨在提供測試高模量材料(例如金屬、複合材料、陶瓷和 CMC)所需的精度和高分辨率。

   b. 分辨率:<0.5 µm 準靜態,<2.5 µm 動態,<0.1 µm 蠕變;典型光學元件和濾波器設置下的典型 RMS 分辨率。
   c. 伸長計精度等級:ISO 9513 Class 0,5 和 ASTM E83 Class B-1 或更高 (標距長度 ≥10mm)
   d. Epsilon ONE 能夠測量所有這些材料的模量、偏移屈服、應力-應變曲線和失效應變。

 

(4) 非接觸式撓度計

 a. Epsilon ONE 也是一種非接觸式撓度計。 它可以測量視野內兩個共面標記之間的初始距離和距離變化,無論標記放置在哪裡。 只要 Epsilon ONE 跟踪的標記在測量平面內,就可以在任何方向使用。

  b. 組件或結構的非接觸撓度測量可以在很寬的時間範圍內進行,單向或循環疲勞高達 200 Hz。

(5) 箔、線、聚合物薄膜

 a. 非接觸式應變測量是測量微細和薄樣品應變的最佳方式。

 b. 使用 Epsilon ONE 測量模量、偏移屈服(offset yield)、應力-應變曲線和斷裂伸長率,包括線材、金屬箔、聚合物薄膜、高模量纖維、纖維束和聚合物長絲。

 c. 標距長度可以是 10 毫米或更短,使用 ONE-200CE 型系統可達 185 毫米,具體取決於試樣的總伸長率。

 d. 超高的相機分辨率、高達 3000 Hz 的實時數據速率以及先進的信號處理技術,可提供高應變分辨率和精度,同時噪聲最低。