表面形貌是許多高科技材料表面的重要特性,其可能低至幾納米,表面粗糙度不到一納米。原子力顯微鏡可以在正常環境條件下輕鬆分析這些特徵。大多數原子力顯微鏡在它們可以處理的樣品的類型和大小上受到限制。 Nanosurf的NaniteAFM是原子力顯微鏡集成市場的解決方案,對樣品尺寸的限制非常小。

NaniteAFM採用針尖掃描內置頂視與側視雙光學輔助系統和一個自動逼近馬達，結構異乎尋常的迷你。它包含了獨立運行原子力顯微鏡測量所需的，為簡單的集成鋪平了道路：您所需要的只是300cm3的空間和安裝NaniteAFM測量頭所需的一個穩定的結構。

基於不斷優化的易用性而省時
NaniteAFM使用背部燕尾式安裝板,方便快速和可重複安裝。帶有定位槽的探針底座讓您無需在更換探針以後進行繁瑣的激光調節，探針定位槽的卓越精度允許在不同位置之間切換,而無需搜索正確的區域,從而減少了實驗期間的停機時間和處理時間。

NaniteAFM集成於 Accurion nanofilm_ep4 成像橢偏儀.

加裝自動X-Y Stage

頂視圖相機可完美概覽您的樣品
具有 2 μm 橫向分辨率的集成頂視攝像頭可提供表面的完美概覽，以定位樣品上的感興趣區域並將其放置在懸臂下方。 方便的側視攝像頭以 45 度角顯示懸臂下方的樣品。 它在 AFM 接管最終自動接近之前，在初始快速接近樣品時引導用戶到達樣品的幾十微米範圍內。