FlexAFM
廠牌 : Nanosurf(瑞士)
型號 : FlexAFM
簡介 :
・模塊化概念,完全符合您的需求。
・與倒置顯微鏡兼容。
・得益於基於撓性的掃描儀技術,可進行平面和線性掃描。
・具有可更換懸臂支架的真正靈活性,可用於專業任務。
・液體和高級測量模式下的掃描功能適用於任何樣本量。
詳細資訊

為了在研究中取得成功,科學家們依賴於能夠隨時提供所需信息的專業工具,而不管手頭的任務如何。 通過推進關鍵技術和設計,Nanosurf 使 FlexAFM 成為有史以來最通用和靈活的 AFM 之一,可以輕鬆處理各種研究應用。 結合強大的 C3000i 控制器,可以進行複雜的材料表徵。

在日常使用中真正重要的實用細節
具有對齊結構的懸臂支架可與包含對齊凹槽的懸臂一起使用。 這提供了千分尺重新定位精度,避免了激光對準並允許您一次又一次地找到相同的樣品特徵。 懸臂從上到下進入圖像,因此無論您是用肉眼、CCD 相機還是 AFM(以默認掃描角度掃描時),樣本方向始終相同。

FlexAFM 成像模式

標準成像模式 熱成像模式 磁性 電氣特性 機械性能 其他測量模式
靜力模式
橫向力模式
動態力模式(敲擊模式)
相位成像模式
熱成像模式
掃描熱顯微術 (SThM) 磁力顯微鏡 導電原子力顯微鏡 (C-AFM)
表面電位
壓電力顯微鏡 (PFM)
靜電力顯微鏡 (EFM)
開爾文探針力顯微鏡 (KPFM)
掃描擴散電阻顯微鏡 (SSRM)
Force Spectroscopy
Force Modulation
Stiffness and Modulus
附著力
Unfolding and Stretching
Force Mapping
光刻和納米操作
電化學原子力顯微鏡 (EC-AFM)

借助倒置顯微鏡選項,NIR FlexAFM 版本可以與多種類型的顯微鏡很好地集成,從而可以輕鬆處理生物實驗,甚至可以將 AFM 和光學數據(熒光/相差/明場)結合起來。

FlexAFM 與 FluidFM® 完全兼容,允許進行涉及對單個細胞和其他小物體、表面和組織進行顯微操作的實驗。
FlexAFM 還與用於納米機械組織診斷和軟材料分析的 ANA 軟件包兼容。 它為您提供了在粗糙和非平坦表面上進行全自動測量的工具,您可以對組織和軟材料等進行定量分析。

FluidFM 和 ANA 只是展示 FlexAFM 超越成像功能的兩個例子。 正如研究 AFM 所預期的那樣,更傳統的光譜和光刻功能是 FlexAFM 的常規任務,無論是記錄力曲線、執行電壓光譜還是通過力或氧化反應修改樣品。 對於力曲線分析,ANA 離線軟件(包括直方圖創建)是免費提供的。