Nanosurf 是大型和重型樣品定制開發系統的市場領導者。 在過去的幾年裡,我們的團隊建立了大量的知識庫,為不同的客戶開發這些定制階段。
利用這一龐大的知識體系,我們現在已經開發出適用於最大 300 mm 的大樣品或最大 45 kg 的重樣品的標準產品。 與定制系統相比,Alphacen 300 降低了價格和交貨時間。
運行自動測量系列
Alphacen 300 包括強大的自動化軟件,允許用戶在預先選擇感興趣的位置,並讓系統在沒有干預的情況下收集圖像。
Alphacen 300 滿足了對標準 AFM 的需求,該標準 AFM 能夠對重量限制高達 45 kg 的大型和重型樣品進行成像。
50 mm的 Z 台行程還允許對薄矽晶片的樣品進行成像。
大樣本
Alphacen 300 AFM 系統有一個樣品台,可以在 XY 方向上移動 300 mm x 300 mm,並且可以測量 300 mm 樣品上的每個點。 根據要求,可以修改載物台以處理更大的 X 範圍(高達 500 毫米)。
XY 載物台的分辨率為 1 µm,單邊重新定位精度為 2 µm,可在成像尖端下精確定位樣品。
該軟件的集成自動化功能可以節省時間對測量系列進行預編程。