奈米材料 NANOSCOPIC SURFACE INDENTER

　

　

MODEL : SPH-1
特 長 :

*最大測試負荷 2 mN , 分解能 0.1 μN

*AFM影像觀察分析 , 最大倍率約 10 萬倍

*光學顯微鏡為標準配備 , 試片容易搜尋

*Windows 對應資料分析軟體

　

　

　

規格
最大試驗力 2 mN , 測定最小單位 0.1 μN
壓子深度測定 0 - 2 μm , 測定最小單位 0.1 nm
鑽石壓子 鑽石三角壓子弟 ( 稜角 115°)
AFM 影像

1)最高倍率約 100,000倍

2)走查範圍 X-Y 方向 30*30 μm , Z 方向 5 μm
連續試驗 最大 10 點
試驗位置的精度 表面走查範圍的 10 %
光學顯微鏡 倍率約 1,250 倍

　

1)鋼鐵滲碳後 (試驗力 : 2,000 μN)

(1)碳化物

(2)馬田賽鐵組織

     2) SiO2 膜 (試驗力 : 200 μN)

    膜厚 (1) 0.1 μm (2) 0.3 μm (3) 1 μm

另有膜厚附著力、微米材料試驗機、 金相切割、研磨機、6軸平台、耗材及工具顯微鏡、高溫爐、四點探針、恆溫恆濕、冷熱衝擊、飽和壓力鍋等設備歡迎來電洽詢 Down Load

　

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