ION MIGRATION TESTING MACHINE是一種信賴性試驗設備，原理為在印刷電路板上給予一固定之直流電壓(BIAS VOLTAGE)，經過長時間之測試(1~1000小時)並觀察線路是否有瞬間短路之現象發生(ION MIGRATION)，並記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻抗試驗，或者是OPEN/SHORT試驗，種種之定義我們將其統稱為絕緣裂化試驗(ION MIGRATION TESTING)

適用規格 : JPCA-ET01-2001

特  長

•同時測定絕緣阻抗值與Migration現象

•獨立Bias電壓對應獨立channel

•雙極性放大輸出特性

•高信賴性自我檢測機能

•優異雜訊防止機能

•數據即時圖像化表示