壹.應用範圍：

1.適用各種顯微鏡或工具顯微鏡擴充自動聚焦功能

2.可裝於LCD、CF、玻璃基板、半導體、金相檢查機上

3.微機電、奈米材料檢查應用

4.微放電加工機、雷射修補機應用

5.On-line加工、測定機組合系統

 貳.特性：

1.使用最新Linear Sensor感測，適用透明、半透明、不透明材料

2.驅動部：最小分解能0.078um/1脈波

3.聚焦範圍：±200um(20倍物鏡使用時) 4.聚焦時間：0.7秒以內(在上述條件)

5.可做單點及自動追蹤聚焦功能

6.可以由電腦及I/O介面做外部控制

 參.機型：共有多種標準機型及特殊規格可供選擇

  Nikon明/暗視野,上下穿透光顯微鏡加裝Auto-Focus系統 

MODEL : SNDM-03

應用介紹：

*一般誘電體材料的線性誘電率測定

*強誘電體體積的線形誘率，非線型誘電率，分極分布測定

*PPLN，晶體記憶體等測定

主體圖

特點：

*線性/非線性誘電率分極(位相)可同時測定

*使用微小的探針接觸量測

*Nano-order的分布測定(探針半徑1um使用時)

*Millimeter-order的分布測定

*彩色圖形，鳥瞰圖顯示

*線性誘電率範圍ε₃₃：1 ~ 10^-6

*非線性誘電率範圍ε₃₃₃：±1.0 ~ 10^-19